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各種儀器的測量方法及儀器的分類

信息分類:顯微鏡資訊  日期: 2021-1-26 10:29:14

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各種儀器的測量方法一般分為絕對測量法和相對測量兩種。
被測工件的尺寸(參數)直接由儀器讀數裝置讀出的稱之絕對測量。這些儀器稱之為絕對測量儀。例如光波比長儀,萬能工具顯微鏡,分厘卡等。這些量儀、量具是利用裝置內的標準器-光波波長、標尺、精密絲桿來對比被測工件,再由一套測微器讀出其小數。
被測工件的尺寸在儀器上讀出的只是與基準量塊尺寸的差值,這種測量稱為相對測量也可稱為比較測量。這些進行的比較測量的各種儀器一般稱為比較測量儀。使用這種測量方法必須將儀器所讀出的差值加上所比較的基準量具尺寸,才是工件的整個尺寸。例如各種光學計、接觸式干涉儀等均屬比較量儀,所以光學計也有稱為光學比較儀的。
各種測長機是絕對測量和比較測量兼用的儀器;它利用儀器上的光學計管來進行比較測量,也可以在全量程內直接讀出被測工件的整個尺寸。所有絕對量儀也可以在作比較測量。利用合宜的附加裝置及量具進行比較測量能提交計量工作效率和儀器的測量精度。所有比較儀在測量工件長度小于該儀器的讀數范圍時,也可作為絕對測量。
光學計的種類,以被測工件安放形式和儀器結構布置上的不同分為立式光學計和臥式光學計,以讀數觀察方式的不同分為目視式、投影式、數字式光學計;以測量精度不同分為光學計和超級光學計。
JD3光學計是投影式光學計,格值為1微米,屬一般精度級的光學計。超級光學計的格值是0.1微米及0.2微米。
接觸式干涉儀的種類,也有立式與臥式,目視式與投影式之分,是格值在0.05~0.2微米范圍內可以調節的精密量儀。
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